Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Pugach M.
Pugach M.
IstinaResearcherID (IRID): 96452068
Статьи в журналах Тезисы докладов
–

Статьи в журналах

    • 2026 In-situ impedance-based diagnostics for electrode degradation in vanadium redox flow batteries
    • Buriak N., Khristoforov I., Protasova S., Kondratenko M., Mozhchil R., Pugach M.
    • в журнале Journal of Power Sources, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 665 DOI
    • 2018 Zero dimensional dynamic model of vanadium redox flow battery cell incorporating all modes of vanadium ions crossover
    • Pugach M., Kondratenko M., Briola S., Bischi A.
    • в журнале Applied Energy, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 226, с. 560-569 DOI
    • 2017 Numerical and experimental study of the flow-by cell for Vanadium Redox Batteries
    • Pugach M., Kondratenko M., Briola S., Bischi A.
    • в журнале Energy Procedia, том 142, с. 3667-3674 DOI

Тезисы докладов

    • 2025 Monitoring of Vanadium Redox Flow Battery State-of-Charge using Color Analysis
    • Khristoforov Ilia, Buriak Nikita, Minin Maxim, Alexandra Vasileva, Bolotin Igor, Novikov Andrei, Ibanez Federico Matin, Pugach Mikhail
    • в сборнике 2025 IEEE 5th International Conference on Electrical Materials and Power Equipment (ICEMPE), место издания IEEE, тезисы, с. 1-4 DOI

ИСТИНА ПсковГУ
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь