Образование

Соавторы: Andrew H.P., Bostroem K.A., Curtis J.M., Egan E., Filippenko A.V., Geballe T.R., Hiramatsu T., Hoeflich A., Jamison B., Kilpatrick C.D., Moran A.E., Park S., Rai A., Reis R.S., Rho J., Stefania V., Suntzeff N.B., Tinyanont S., Tyler R., Блинников С.И., Жу, Плетнер Ю.Д., Степанов В.М., ыке ы.в., - -.-., Aaij R., Adinolfi M., Aiola S., Alamo L., Albrecht J., Alexander M.K., Alnaqbi J., Amato S., Archilli F., Baglio M.C., Borghi S., Bouttcher B., Brel O.A., C-C Y., Calvi G., Cardini A., Cattaneo M., Cfd t.b., Challis B.H., Coelho J., Cámpora Pérez D.H., De Cian M., Dordei F., Dufour C., Durante P., Dziurda A., Fitzpatrick C., Foley R.J., Frank M.J., Fraser L., Gelfand J., Graziani G., Grill C., Gu¨nter P., Hansmann-Menzemer S., Henry L.A., Huajie W., Hulsbergen W., Huster R., Jones C., Jones D., Jones D.L., Kliver S., Kolte D., Kontu A., Konyves-Toth R., Könyves-Tóth R., Land, Le Gal V., Lee K., Liu X., Lopez J., Lucio M.J., Lupton J.E., Machefert F., Manousakis A., Marchand J.F., Mariana S., Martin S., Mateo R., Mulloth B., Murelli M., Neufeld R.J., O’Hanlon D., Padrón R., Parras M., Petrucci S., Pint, Pirani F., Poli F., Prouve C., Pura B., Rabadan Trejo R.I., Ravel, Reis F., Robbe P., Russell D.M., Ryzhikov A.S., SUN L., Saikia P., Santimaria M., Sauer M., Schmidt M.W., Schoeffler M.S., Schwemmer R., Sciascia B., Sebastian D., Sieger M., Sitek M., Spradlin P., Stal L.J., Steven, Ståhl S., Szumlak T., Szymański M.K., Thomas I., Tucci M., Tuci G., Usachov A.E., Vazquez M., Vecchi S., Vesterinen M., Vilasis-Cardona X., Vink J., Vinko J., Wang S., Whitehead M., Williams M.A., Williams P.L., X A., XIE Y.M., Yen S.T., Yoon S., Yoon S., Zenaiev O., Zhang G., Zhang L., Zhu X., d’Argent P., hu j., Ата Г., Басс И.А., Болдырев А.А., Величковский Б.М., Гандина Е., Григоров В.В., Деркач Д.С., Есин С.А., Катков И.Ю., Кубасова Н.А., Ли П., МАРЬИН Б.В., Мери А.К., Ни В., Полуэктов А.Н., Руч Д.Х., Соломин А.Н., Тан Л.Г., Тука И.К., Филиппов С.В., Хилл Д., Цатурян А.К., Чебанова В.В. Показать ещё Скрыть