Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Schwier E.F.
Schwier E.F.
IstinaResearcherID (IRID): 805559282
–

Статьи в журналах

    • 2021 Sample-dependent Dirac-point gap in MnBi2⁢Te4 and its response to applied surface charge: A combined photoemission and ab initio study
    • Shikin A.M., Estyunin D.A., Zaitsev N.L., Glazkova D., Klimovskikh I.I., Filnov S.O., Rybkin A.G., Schwier E.F., Kumar S., Kimura A., Mamedov N., Aliev Z., Babanly M.B., Kokh K., Tereshchenko O.E., Otrokov M.M., Chulkov E.V., Zvezdin K.A., Zvezdin A.K.
    • в журнале Physical Review B, издательство American Physical Society (United States), том 104, № 11 DOI

ИСТИНА ПсковГУ
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь