Образование

Соавторы: De Lee N., Fleming S., Gaudi B.S., Guo W.P., Kane S.R., Mahadevan S., Malanushenko V., Oravetz D., Sivarani T., Snedden A., Бизяев Д.В., Barnes R., Brewington H., Eastman J.D., Gary B., Malanushenko E., Pan K., Pepper J., Schneider D.P., Simmons A., Stassun K., Wan X., Wisniewski J.P., Zhao B., Chang C.F., Costello E., Crepp J., Eisenstein D.J., Fletcher A., Ford E.B., Ford H., Groot J., Hanna K., Hawley S.L., Hearty F.R., Holtzman J.A., Laws C., Leger F., Long D., Malik M., Niedzielski A., Rohan P., Shelden A., Siverd R.J., Varosi F., Watters S., Weinberg D.H., Bieryla A., Bochanski J.J., Brewinton H., Ciardi D., Clark C.A., Cohen R.J., Collier C.A., Collins K.A., DeWitt C., Dou L., Ehrhardt J., Esparza-Borges E., Forveille T., Fukui A., Gilbert E.A., Grupp F., Gössl C., Hara N., Hebrard G., Heidari N., Hellier C., Hopp U., Ikuta K., Jenkins J.M., Jiang P., Kellermann H., Kiefer F., Korth J., Latham D.W., Lee B.K., Lee D., Liu J., Malanushenko O., Maxted P.F., Morehead R.C., Murgas F., Nielsen L.D., Norton A.J., Palle E., Parviainen H., Pippert J., Polanski A.S., Pollacco D., Quinn S.N., Ries C., Riffeser A., Schmidt M., Schneider G., Schwarz R., Schöller L., Seager S., Seager S., Serrano B.J., Simon A., Skillen I., Sousa S.G., Striegel S., TA; E., Thomas L., Watanabe N., Watkins C.N., West R., Winn J.N., Wolszczan A., Xie J., Ziegler C., Zöller R., Белинский А.А., Пайн К.Д., Страхов И.А. Показать ещё Скрыть