Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Talaat A.
Talaat A.
IstinaResearcherID (IRID): 5287340
–

Статьи в журналах

    • 2017 Engineering of Giant Magnetoimpedance Effect of Amorphous and Nanocrystalline Microwires
    • Zhukov A., Ipatov M., Talaat A., Blanco J.M., Churyukanova M., Granovsky A., Zhukova V.
    • в журнале Journal of Superconductivity and Novel Magnetism, издательство Springer Verlag (Germany), том 30, № 5, с. 1359-1366 DOI
    • 2016 Frequency and Magnetic Field Dependence of the Skin Depth in Co-rich Soft MagneticMicrowires
    • Zhukov A., Talaat A., Ipatov M., Granovsky A., Zhukov V.
    • в журнале Advanced Electromagnetics, том 5, № 3, с. 39-41
    • 2016 Estimation of the frequency and magnetic field dependence of the skin depth in Co-rich magnetic microwires from GMI experiments
    • Zhukov A., Talaat A., Ipatov M., Granovsky A., Zhukova V.
    • в журнале Journal of Science: Advanced Materials and Devices, том 1, с. 388-392 DOI
    • 2012 Magnetic Properties and GMI Effect of Ductile Amorphous Microwires
    • Zhukova V., Umnov P., Molokanov V., Shalygin, Talaat, Talaat A., Zhukov A.
    • в журнале IEEE Transactions on Magnetics, издательство Institute of Electrical and Electronics Engineers (Piscataway, NJ, United States), том 48, № 11, с. 4034-4037 DOI

ИСТИНА ПсковГУ
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь