Образование

Соавторы: Aiguo W., Mandal S.K., Wenpei F., Xiaoyuan C., Yijing L., Zhen Y., Zijian Z., Брегадзе В.И., Baehrecke E., Changrong S., Chaomin K., Chen G., Chi J., Dai E., Eftekharpour E., Gabrilovich D., Galluzzi L., Gang N., Gewirtz D.A., Guizhi Z., Hülya B., Jeeva M., Jian-Hua Z., Jiang X., Jianyi L., Jones J., Joseph L., Juhasz A., Kampmann M., Kando M., Kim D., Klionsky D., Koopman Werner J.H., Krautwald S., Kroemer G., Labuda D., Laine J., Li Changfeng, Linkermann A., Lipinski M., Liu J., Luo S., Lünemann J.D., Mandel I., Michel T., Minghui H., Mu J., Münz C., Pellen R., Piacentini M., Qinghua J., Qiu X., RU), Roh J., Rubinsztein D.C., Sadoshima J., Scheibye-Knudsen M., Scott A.C., Sebastian, Seo Y.T., Shen H., Simon H., Sinha D., Ting X., Toyokuni S., Wei G., Wei L.S., Wei T., Wen-Xing Y., Xie Y., Xin C., Yan L., Ying L., Yu D.Y., Zhu L., Zihou L., heh h.h., k j.h., zhang d., Боос Е.Г., Долин С.П., Друзина А.А., Животовский Б.Д., Жу, Каган В.Е., Кристакис Н., Ренни Ф.М., Цао Н., Цветков А.С., Чиан Ч. Показать ещё Скрыть