|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
COMPARATIVE ANALYSIS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTORS: ELECTRON-BEAM-INDUCED POTENTIAL METHOD, SINGLE-CONTACT ELECTRON-BEAM-INDUCED CURRENT METHOD, AND THERMOACOUSTIC DETECTIONстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 апреля 2018 г.
- Авторы: Rau E.I., Gostev A.V., Shiqiu Z., Phang D., Chan D., Thong D., Wong W.
- Журнал: Russian Microelectronics
- Том: 30
- Номер: 4
- Год издания: 2001
- Издательство: Maik Nauka/Interperiodica Publishing
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 207
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович