Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ПсковГУ
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Russian Microelectronics
журнал
Индексирование: Scopus (1 января 1970 г.-), Журналы РФ в Scopus (1 января 1970 г.-), Список РИНЦ (1 января 1970 г.-), Белый список (20 октября 2022 г.-)
Период активности журнала: не указан
Издательство:
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
Местоположение издательства:
Russian Federation
ISSN:
1063-7397 (Print), 1608-3415
Статьи, опубликованные в журнале
Страницы: << предыдущая
1
2
3
4
следующая >>
2025
Increasing Performance of a Microactuator Based on a Hydrogen-Oxygen Mixture Explosion
Shlepakov P.S.
,
Svetovoy V.B.
,
Uvarov I.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1147-1149
DOI
2025
Magnetic properties of iron nanowires in a porous aluminum oxide matrix
Grushevsky Egor, Savinsky Nikolay, Trushin Oleg, Naumov Victor,
Shendrikova Lidiia
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1232-1241
DOI
2025
Measuring the Adhesion Energy between MEMS Structures Using an Adhered Cantilever
Uvarov I.V.
,
Morozov O.V.
,
Postnikov A.V.
,
Svetovoy V.B.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 2, с. 177-186
DOI
2025
MEMS as Scientific Instruments: Precise Measurement of the Adhesion Energy with an Adhered Cantilever
Postnikov A.V.
,
Uvarova I.V.
,
Schlepakov P.S.
,
Svetovoy V.B.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1132-1141
DOI
2025
Nanostructured Etching of Ruthenium in Three-Component Cl2/O2/Ar Plasma
Amirov I.I.
,
Izyumov M.O.
,
Lopaev D.V.
,
Rakhimova T.V.
,
Kropotkin A.N.
,
Voloshin D.G.
,
Palov A.P.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 3, с. 254-264
DOI
2025
On the Influence of Various Oxygen-Containing Gases on the Composition of Trifluoromethane Plasma
Efremov A.M.
,
Koryakova E.E.
,
Betelin V.B.
,
Kwon K.H.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 5, с. 450-457
DOI
2025
Predicting Quantum Capacitance of a SOI Nanowire Induced Quantum Dot: On-Chip Quantum Chemistry Approach
Kopchinskii I.D.
,
Shorokhov V.V.
,
Popov A.A.
,
Shagalov N.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1563-1569
DOI
2025
Quantum coherence restoring in communication line via strong pulse-form interaction with environment
Fel'dman E.B.
,
Lazarev I.D.
,
Pechen A.N.
,
Zenchuk A.I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1497-1504
DOI
2025
Quantum Entanglement in Two-Spin Systems in Multiple Pulse NMR Spin Locking with Dephasing Relaxation
Bochkin G.A.
,
Zenchuk A.I.
,
Kuznetsova E.I.
,
Fedorova A.V.
,
Fel'dman E.B.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1490-1496
DOI
2025
Solid-State Electrochemistry in Microelectronics
Skundin A.
,
Kulova T.
,
Rudy A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1167-1174
DOI
2025
State control and measurement system for semiconductor quantum dots qubits
Mikhailov P.O.
, Surkov M.A.,
Shorokhov V.V.
,
Trifonov A.S.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8
DOI
2025
Utilizing Porous Low-k Dielectrics for Self-Monitoring of Vacuum Chamber Contamination
Mungunsuvd Gerelt-Od
,
Konyakhin F.Y.
,
Vishnevskiy A.S.
,
Lopaev D.V.
,
Vorotilov K.A.
,
Rakhimova T.V.
,
Baklanov M.R.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 54, № 8, с. 1329-1338
DOI
2024
Modeling the Functioning of Semiconductor Devices Taking into Account Defects in the Atomic Structure
Gainullin I.K.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 53, № 8, с. 810-814
DOI
2024
Plasma Parameters and Etching Kinetics of Si/SiO2 in Mixtures of Fluorocarbon Gases with Argon and Helium
Efremov A.M.,
Betelin V.B.
,
Kwon K.H.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 53, № 6, с. 567-575
2024
Simulation of MHD-influence on silicon melt flow in Czochralski process
Verezub N.A.
,
Prostomolotov A.I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 53, № 8, с. 773-779
DOI
2024
Structural Features and Electrical Properties of Si(Al) Thermomigration Channels for High-Voltage Photoelectric Converters
Lomov A.A.
, Seredin B.M., Martyushov S.Yu,
Tatarintsev A.A.
, Popov V.P.,
Malibashev A.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 53, № 2, с. 135-146
DOI
2023
Atypical Raman Scattering on Magnetic Junctions in Metallic Nanowires
Krishtop V.,
Korepanov V.
,
Fomin L.
,
Zagorskiy D.
,
Doludenko I.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № S1, с. S59-S66
DOI
2023
Comparative Study of LQU and LQFI Measures of Quantum Correlations in Two-Spin-1/2 Heisenberg Systems
Yurischev M.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № 1, с. S412-S418
2023
Fast Electrochemical Micropump for Portable Drug Delivery Module
Uvarov I.V.
,
Shlepakov P.S.
,
Abramychev A.M.
,
Svetovoy V.B.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № 3, с. 186-194
DOI
2023
Flux-driven Traveling-Wave Parametric Amplifier with bi-SQUIDs cells
Kornev V.K.
,
Kolotinskiy N.V.
,
Nikolaeva A.N.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № Suppl 1, с. S44-S52
DOI
2023
Generation of Nonmaximally Entangled States between BECs with Quantum Optimal Control Methods
Lazarev I.D.
,
Pyrkov A.N.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № S1, с. S403-S411
DOI
2023
Magnetic Properties of Ni Nanowires in Porous Anodic Alumina Matrix
Grushevski E.A., Savinski N.G., Trushin O.S.,
Shendrikova L.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № S1, с. S67-S70
DOI
2023
Nonequilibrium Diagram Technique Applied to the Electronic Transport via Tightly Bound Localized States
Kopchinskii I.D.
,
Shorokhov V.V.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № S1, с. S337-S351
DOI
2023
Plasma Parameters and Kinetics of Reactive Ion Etching of SiO2 and Si3N4 in an HBr/Cl2/Ar Mixture
Efremov A.M.,
Betelin V.B.
, Kwon K.H.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № 2, с. 99-106
DOI
2023
Strontium Iridates as Barrier Materials for Josephson Heterostructures
Kislinskii Y.V.
,
Constantinian K.Y.
,
Moskal I.E.
,
Dubitskiy N.V.
,
Petrzhik A.M.
,
Shadrin A.V.
,
Ovsyannikov G.A.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 52, № S1, с. S53-S58
DOI
Страницы: << предыдущая
1
2
3
4
следующая >>