–
Статьи в журналах
-
- 2014 Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-VT FDSOI technology
- Besnard G., Garros X., Nguyen P., Andrieu F., Reynaud P., Van Den Daele W., Bourdelle K.K., Schwarzenbach W., Toffoli A., Kies R., Delprat D., Reimbold G., Cristoloveanu S.
- в журнале Solid-State Electronics, издательство Pergamon Press Ltd. (United Kingdom), том 97, с. 8-13 DOI