Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Yeom Geun Young
Yeom Geun Young
IstinaResearcherID (IRID): 536061929
–

Статьи в журналах

    • 2006 Characteristics of a Multilayer SiOx(CH)yNz Film Deposited by Low Temperature Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition Using Hexamethyldisilazane/Ar/N2O
    • Lee June Hee, Jeong Chang Hyun, Lim Jong Tae, Zavaleyev Viktor A., Kyung Se Jin, Yeom Geun Young
    • в журнале Japanese Journal of Applied Physics, издательство Institute of Pure and Applied Physics (Japan), том 45, № 10S, с. 8430 DOI

ИСТИНА ПсковГУ
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь