Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Kooi B.J.
Kooi B.J.
IstinaResearcherID (IRID): 1346742
–

Статьи в журналах

    • 2021 Wetting of surfaces decorated by gas-phase synthesized silver nanoparticles: Effects of Ag adatoms, nanoparticle aging, and surface mobility
    • ten Brink Gert H., Zhu Xiaotian, Guo Weiteng, Blauw K., Assink L., Svetovoy V.B., Kooi Bart J., Palasantzas George
    • в журнале Journal of Chemical Physics, издательство AIP Publishing (United States), том 155, № 21, с. 214701 DOI
    • 2021 Casimir and electrostatic forces from Bi2Se3 thin films of varying thickness
    • Babamahdi Z., Svetovoy V.B., Yimam D.T., Kooi B.J., Banerjee T., Moon J., Oh S., Enache M., Stöhr M., Palasantzas G.
    • в журнале Physical Review B, издательство American Physical Society (United States), том 103, № 16 DOI
    • 2019 Effect of Airborne Hydrocarbons on the Wettability of Phase Change Nanoparticle Decorated Surfaces
    • Guo Weiteng, Chen Bin, Van Lam Do, ten Brink Gert H., Kooi Bart J., Svetovoy Vitaly B., Palasantzas George
    • в журнале ACS Nano, издательство American Chemical Society (United States), том 13, № 11, с. 13430-13438 DOI
    • 2002 Ultrasoft magnetic films investigated with Lorentz tranmission electron microscopy and electron holography
    • De Hosson J.T.M, Chechenin N.G., Alsem D.H., Vystavel T., Kooi B.J., Chezan A.R., Boerma D.O.
    • в журнале Microscopy and Microanalysis, издательство Cambridge University Press (United Kingdom), том 8, № 4, с. 274-287 DOI

ИСТИНА ПсковГУ
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь