–
Книги
- 2012 Стойкость ИМС в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения. Аспекты методики исследования стойкости интегральных микросхем (ИМС), эксперименты, модели повреждения
- Солодов А., Пирогов Ю., Ключник А.
- место издания LAP LAMBERT Academic Publishing Saarbrbruecken, Germany, ISBN 978-3-8473-7026-0, 77 с.