|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
A NONCONTACT ELECTRON-PROBE METHOD FOR MEASURING THE DIFFUSION LENGTH AND THE LIFETIME OF MINORITY CHARGE CARRIERS IN SEMICONDUCTORSстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 ноября 2017 г.
- Авторы: Rau E.I., Zhu S.
- Журнал: Semiconductors
- Том: 35
- Номер: 6
- Год издания: 2001
- Издательство: Springer
- Местоположение издательства: New York
- Первая страница: 718
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович