|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
ПРОЕКЦИОННАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКЦИОННАЯ ТОПОГРАФИЯ – ВОЗМОЖНОСТИ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ИЗОБРАЖЕНИЙ ДЕФЕКТОВстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Суворов Э.В., Смирнова И.А.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 11
- Год издания: 2013
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 4
- Аннотация: В данной работе предлагаются методики получения количественной информации о параметрах де фектов, наблюдаемых на проекционных топограммах, и получения основных параметров дефектов по характеристикам дифракционного изображения, регистрируемого на проекционных топограм мах (величина и характер поля смещений, глубина залегания дефектов под входной поверхностью кристалла, пространственная ориентация и другие параметры). На примере прямолинейных дисло каций, введенных в монокристалл кремния при пластическом изгибе, показана возможность такого анализа дифракционных изображений на проекционных топограммах, позволяющая получать ос новные характеристики дефектов. DOI: 10.7868/S0207352813110206
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич