Interface engineering of multilayer HfOx memristors for enhanced performance and reliability - статья | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Interface engineering of multilayer HfOx memristors for enhanced performance and reliabilityстатья

Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 15 апреля 2026 г.

Авторы: Shvetsov Boris S., Matsukatova Anna N., Kuchumov Ivan D., Ilin Alexander S., Tsiniaikin Ilia I., Novoseltsev Aleksandr I., Savchuk Timofey P., Martyshov Mikhail N., Forsh Pavel А., Kashkarov Pavel К.
Журнал: Microelectronics and Reliability
Том: 181
Год издания: 2026
Издательство: Elsevier BV
Местоположение издательства: Netherlands
Номер статьи: 116146
DOI: 10.1016/j.microrel.2026.116146
Добавил в систему: Мартышов Михаил Николаевич