Рентгеноструктурный анализ трудно кристаллизующихся веществ с помощью короткоимпульсного когерентного излучения. Сборник тезисов докладов международного форума природоподобных технологий (21-25октября 2025 , ФГБУ НИЦ «Курчатовский институттезисы доклада
Аннотация:Наиболее точный и широко применяемый в химии метод определения атомно-молекулярного строения вещества – рентгеноструктурный анализ (РСА) по данным дифрактометрии монокристалла на монохроматическом излучении – часто оказывается неприменим из-за трудности выращивания кристаллов размерами ~30 – 300 мкм, которые используются в традиционномРСА. В таких случаях, при наличии монокристаллов микронного или даже субмикронного размера, для РСА можно использовать метод поточной последовательной рентгеновской кристаллографии (SXC), разработанный в последние два десятилетия для реализации на излучении рентгеновских лазеров на свободных электронах (XFEL). Однако чрезвычайная ограниченность доступа к работе на мега-установках коллективного пользования типа XFEL препятствует использованию данного метода для оперативного контроля продуктов химического синтеза. В этом докладе рассматриваются: (1) альтернативные, гораздо более доступные пользователям, компактные и менее дорогие источники короткоимпульсных РЛ с характеристиками подобными излучению XFEL, такие как лазерно-плазменные и лазерно-электронные генераторы РЛ, созданные благодаря доступности оптических лазеров высокой мощности; (2) практика применения этих источников для РСА методом SXC.
