Аннотация:Для плёнок FeSeTe на аморфной диэлектрической подложке - стекле марки К-208, исследованы морфология поверхности и элементный состав. Измеренные среднеквадратичные значения высот выростов на поверхности плёнки составляют 4÷6 нм в поле 1×1 мкм^2 и 7÷10 нм в поле 10×10 мкм^2. Найденный элементный состав Fe1.05Se0.5Te0.5 оказался близок к стехиометрическому соотношению. Получены оценки значений верхнего критического поля Hс2ab(0) ≈ 68 Тл и Hс2⊥ab(0) ≈ 51 Тл при различной ориентации магнитного поля относительно кристаллографических плоскостей плёнки. Соответствующее значение анизотропии свойств полученных плёнок близко к 1.3 и сравнимо с результатами для таких плёнок на монокристаллическихподложках. Найдены значения для длины когерентности: кси ab(0) ≈ 2.5 нм, кси c(0) ≈ 1.9 нм.Измерена плотность критического тока, оказавшаяся на уровне 2.1 × 10^4 A/см^2 (контактныйметод) и 2.3 × 10^4 A/см^2 (бесконтактный метод СКВИД) в нулевом поле при температуре2 К. Получены оценки энергии активации вихрей U(H) и плотности силы пиннинга. Показанопреобладание пиннинга на коррелированных дефектах.Работа выполнена в рамках проектов: - "Исследования фундаментальных физических свойств объектов наноэлектроники" (госбюджет, раздел 0110 (для тем по госзаданию) номер договора: AAAA-A20-120121890064-2Номер ЦИТИС: AAAA-A20-120121890064-2 -"Синтез, термодинамика и физика минералов и их синтетических аналогов" (госбюджет, раздел 0110 (для тем по госзаданию), номер FMUF-2022-0002, номер ЦИТИС 2)