|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Single-walled carbon nanotube pristine films: Thickness determination, antireflective properties and two-photon 3D lithography demonstrationстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 октября 2025 г.
- Авторы: Zhigunov Denis M., Sharipova Margarita I., Gladush Yury G., Krasnikov Dmitry V., Bessonov Vladimir O., Fedyanin Andrey A., Nasibulin Albert G.
- Журнал: Optical Materials
- Том: 167
- Год издания: 2025
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Номер статьи: 117289
- DOI: 10.1016/j.optmat.2025.117289
- Аннотация: We present a straightforward approach for measuring the thickness of highly porous and rough single-walled carbon nanotube (SWCNT) pristine thin films. Using the developed approach, the linear dependence of the film thickness on its absorbance at 550 nm was obtained with a slope coefficient of 404 nm, which can be used as a calibration curve for an optical determination of SWCNT pristine film thickness on the basis of spectrophotometry measurements. Transmittance and reflectance of free-standing SWCNT pristine films with thicknesses in the range of 20–120 nm are studied, and ultra-low specular reflectance below 0.05 % is obtained for the thinnest membrane. Perspectives of SWCNT-based antireflective coatings are explored using Si wafer as a reference. Finally, femtosecond laser 3D lithography is performed using free-standing SWCNT film as a substrate, which opens up new directions for the application of SWCNTs, for instance, in X-ray optics.
- Добавил в систему: Бессонов Владимир Олегович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|