|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Силовые кривые в сканирующей зондовой микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Ахметова А.И., Дубровин Е.В., Яминский И.В.
- Журнал: Наноиндустрия
- Том: 18
- Номер: 3-4
- Год издания: 2025
- Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 204
- Последняя страница: 210
- DOI: 10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.204.210
- Аннотация: Силовые кривые в атомно-силовой микроскопии (АСМ) позволяют получить совокупность механических свойств образца. Среди них упругие, адгезионные, прочностные свойства. Измерение силовых кривых широко используется при изучении биологических объектов. Эти кривые необходимы для понимания различных свойств материалов и взаимодействий в наномасштабе, в частности, для изучения эластичности, жесткости и адгезионных свойств биологических образцов. Силовые кривые используются для изучения молекулярных взаимодействий, таких как разрыв связей и растяжение полимера. Силовое картирование или объемные карты распределения силовых кривых помогают реконструировать пространственное распределение механических свойств
- Добавил в систему: Ахметова Ассель Иосифовна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|