Аннотация:Дано обоснование скейлинговым методам оптической диагностики аппроксимантов одномерных и двумерных структур квазикристаллического типа, представляющих собой апериодические многослойные системы и дифракционные решетки. Оно опирается на наличие количественной связи между морфологическими особенностями структур аппроксимантов и скейлингом их оптических характеристик. Обнаруженная устойчивость скейлинговых параметров зондирующего излучения к изменению уровня генерации элементарных ячеек аппроксимантов и размеров исследуемых структур указывает на перспективность скейлинговых подходов к совершенствованию диагностики.