Аннотация:Установлены кинетика и механизм термооксидирования гетероструктур VxOy/GaAs, синтезированных нанесением геля V2O5 из аэрозоля на полупроводник, состава и морфологии поверхности сформированных оксидных пленок. Оксидирование исследованных образцов осуществляется по транзитному механизму, что подтверждается отсутствием регенерации ванадия в степени окисления +5 (данные РФА) и кинетическими параметрами процесса. По данным РФА, сформированные пленки содержат оксид ванадия (IV), оксиды галлия, мышьяка и арсенат галлия, что позволяет корректно описывать оптические постоянные дисперсионной формулой Коши и с высокой точностью проводить эллипсометрические измерения. В результате термооксидирования гетероструктур VxOy/GaAs формируются пленки с высотой рельефа поверхности, не превышающей 57 нм.