Аннотация:Представлен комплексный численный анализ изображений со сверхвысоким разрешением с использованием диэлектрических микрочастиц с использованием метода конечных разностей во временной области (FDTD) для выяснения механизмов, которые позволяют повышение разрешения за пределами дифракционного предела. Наше исследование показывает, что диэлектрические микрочастицы могут достичь разрешения порядка 50 нм в видимом спектре, превосходя пределы традиционной оптической микроскопии. Моделируя распространение излучения через систему микрочастица-объект и генерируя оптические изображения с помощью метода обратного распространения, мы раскрываем важную информацию о том, как микрочастицы усиливают
контрастность и разрешение изображения. В исследовании также изучается влияние различных параметров, таких как когерентность источника и взаимодействие частиц с подложкой, на процесс формирования изображения. Наши результаты не только подтверждают возможность получения изображений с использованием микрочастиц со сверхвысоким разрешением, но также обеспечивают надежную основу для дальнейших
достижений в области технологий оптической визуализации с потенциальным применением в областях, требующих сверхвысокого разрешения.
