|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.
- Авторы: Vecchione A., Fittipaldi R., Cirillo C., Hesselberth M., Aarts J., Prischepa S.L., Kushnir V.N., Kupriyanov M.Yu, Attanasio C.
- Журнал: Surface Science
- Том: 605
- Номер: 19-20
- Год издания: 2011
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 1791
- Последняя страница: 1796
- DOI: 10.1016/j.susc.2011.06.013
- Аннотация: Specular and diffuse X-ray scattering are used to study interfacial roughness in Nb/Pd(0.81)Ni(0.19) multilayers deposited by dc UHV sputtering. The data are analyzed to extract information about the correlated behavior of interface roughness in both the lateral and vertical directions. X-ray reflectivity is treated quantitatively by computer-aided simulation and modelling in order to extract values also for the layers thickness. From the analysis of the diffusive spectra of the reflectivity maps the roughness correlation has been evaluated.
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|