Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ПсковГУ
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
тезисы доклада
Авторы:
Ломов А.А.
,
Бушуев В.А.
,
Караванский В.А.
Сборник:
Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), С Р 2-59
Тезисы
Год издания:
1998
Место издания:
Москва
Первая страница:
59
Последняя страница:
59
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич