Аннотация:Проведен анализ возможности идентификации 1D и 2D структур квазикристаллического
типа (в том числе их аппроксимантов) на основе регистрации локальных паттернов в полях
зондирующих пучков, а также дана оценка присутствующих в них структурных дефектов.