Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ПсковГУ
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Characterization of thin CeO2 buffer layers deposited on sapphire (Al2O3)
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.
Авторы:
Sokolov S.V.
,
Knotko A.V.
,
Erokhin Yu Yu
,
Graboi I.E.
,
Putlayev V.I.
,
Kaul A.R.
Сборник:
Abstracrts of the MRS Spring'96 Meeting
Тезисы
Год издания:
1996
Место издания:
San-Francisco, USA
Первая страница:
461
Добавил в систему:
Кнотько Александр Валерьевич