Аннотация:Рассмотрено дифракционное преобразование скейлинговых и статистических характеристик спекловых фрактальных полей. Для их модельного представления использованы свойства двумерной функции Вейерштрасса со случайными фазами ее гармоник и релеевским законом распределения интенсивности. Оценка характеристик светового поля на разных расстояниях от начальной плоскости проводилась методом его разложения по плоским волнам в сочетании с методом покрытий. Она показала, что при распространении световых спекловых пучков сохраняется фрактальность в поперечном распределении амплитуды поля, однако значения фрактальной размерности может заметным образом изменяться. При этом имеет место скейлинг в пространственном спектре излучения. Это свойство обеспечивает высокую эффективность применения фрактальных спекловых структур в арт-терапии и офтальмологии.
