Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ПсковГУ
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Применение методов электронной спектроскопии для исследования тонких пленок и ионно-модифцированных материалов
тезисы доклада
Авторы:
Картапова Т.С.
,
Быков П.В.
,
Гильмутдинов Ф.З.
Сборник:
Тезисы докладов пятнадцатого международного уральского семинара "Радиационная физика металлов и сплавов"
Тезисы
Год издания:
2024
Место издания:
Институт физики металлов УрО РАН Екатеринбург
Первая страница:
93
Последняя страница:
94
Аннотация:
Рассмотрены методы электронной спектроскопии применительно к ионно-модифицированным материалам.
Добавил в систему:
Гильмутдинов Фаат Залалутдинович