Influence of substrate properties on sample preparation for investigations by methods sensitive to surface propertiesстатьяИсследовательская статья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 15 февраля 2024 г.
Аннотация:The paper considers the influence of the substrate polarity on the preparation of samples from sols for examination by X-ray photoelectron spectroscopy and atomic force microscopy.