|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Imaging and strain analysis of nano-scale SiGe structures by tip-enhanced Raman spectroscopyстатья
- Авторы: Hermann Peter, Hecker Michael, Chumakov Dmytro, Weisheit Martin, Rinderknecht Jochen, Shelaev Artem, Dorozhkin Pavel, Eng Lukas M.
- Журнал: Ultramicroscopy
- Том: 111
- Номер: 11
- Год издания: 2011
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 1630
- Последняя страница: 1635
- Добавил в систему: Шелаев Артём Викторович