|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)статья
- Авторы: Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
- Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС
- Номер: 3
- Год издания: 2022
- Издательство: Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 206
- Последняя страница: 211
- DOI: 10.31114/2078770720223206211
- Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии изучена поверхность образцов аморфной электротехнической стали (фольги) Fe(Ni, Cu)(SiB) толщиной около 100 мкм, шириной 10 мм, длиной 50 мм, которая была получена методом сверхбыстрого охлаждения при рас-пылении расплава на вращающемся барабане. На контактной поверхности фольги обнаружены характерные структурные элементы, наличие которых в различных местах поверхности может существенно влиять на электротехнические свойства материала.
- Добавил в систему: Каминская Татьяна Петровна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|