Аннотация:В данной работе тонкие углеродные пленки напылялись на поверхность стекла методом магнетронного распыления углеродной мишени в среде рабочего газа Ar+. Затем углеродные пленки подвергались имплантации ионов аргона в импульсно-периодическом режиме. В процессе варьировалась скорость набора дозы имплантации ионов. Толщины и топографии пленок были оценены методом атомно-силовой микроскопии. На уровне ошибки измерения на исходной пленке значения толщины коррелируют с расчетными данными при напылении. Поверхностно-чувствительными методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света изучены их химический состав и особенности атомной структуры. Измерено электросопротивление углеродных пленок в зависимости от скорости набора дозы имплантации. Показано, что ионно-лучевая обработка может быть направленно использована для формирования углеродных пленок и покрытий с заданными свойствами.