Verification of a memory cell based on a single electron trap - тезисы доклада | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Verification of a memory cell based on a single electron trapтезисы доклада

Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.

Авторы: Krupenin V.A., Lotkhov S.V., Presnov D.E., Wolf H., Ahlers F.J., Niemeyer J., Scherer H., Weimann T., Zorin A.B.
Сборник: Abstracts of IX Trilateral German - Russian - Ukrainian Seminar on High-Temperature Superconductivity
Тезисы
Год издания: 1996
Место издания: Gabelbach Germany, 22-25 September
Первая страница: 22
Добавил в систему: Преснов Денис Евгеньевич