Аннотация:7 стр., 4 рис., 1 табл. С помощью компьютерного моделирования методом молекулярной динамики исследовано распыление на прострел атомов компонент при ионной бомбардировке грани (0001) двухкомпонентного монокристалла VSi2. Рассчитано распыление атомов компонент при распылении виртуальных монокристаллов VV’2 и Si’Si2, состоявших из атомов одной массы, и исследован новый эффект в селективном распылении: при равенстве масс и энергий связи атомов компонент на прострел преимущественно распылялись атомы из ванадиевых узлов. Этот эффект можно назвать эффектом неидентичности узлов компонент в сложной решетке VSi2 (типа C40) к распространению импульса в каскадах столкновений, то есть эффектом структуры в селективном распылении двухкомпонентных монокристаллических мишеней.
Ключевые слова: распыление, прохождение ионов, селективное распыление, распыление на прострел, двухкомпонентные мишени, VSi2, тонкие монокристаллические пленки.