|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Magnetic properties of thin Ni films measured by a dc SQUID-based magnetic microscopeстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 июля 2013 г.
- Авторы: Snigirev O.V., Andreev K.E., Tishin A.M., Gudoshnikov S.A., Bohr J.
- Журнал: Physical Review B
- Том: 55
- Номер: 21
- Год издания: 1997
- Издательство: American Physical Society
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 14429
- Последняя страница: 14433
- Аннотация: We have applied a scanning HTS (high-temperature superconductor) de SQUID (superconducting quantum interference device) -based magnetic microscope to study the magnetic properties of Au/Ni/Si(100) films in the thickness range from 8 to 200 Angstrom at T = 77 K. A one-domain structure with in-plane orientation of the magnetic moment was found for film thicknesses exceeding 26 Angstrom. A drastic decrease of the magnetization of the film was detected when the thickness is less than 26 Angstrom.
- Добавил в систему: Снигирев Олег Васильевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | snigirev_1997_PRB.pdf | snigirev_1997_PRB.pdf | 109,0 КБ | 21 октября 2015 [Tishin] |