Анализ причин возникающих дефектов на различных технологических этапах получения танталовых конденсаторовНИР

Analysis of the causes of defects occurring at various technological stages of obtaining tantalum capacitors

Источник финансирования НИР

Хоздоговор, Договор
Хоздоговор, Договор

Этапы НИР

# Сроки Название
1 29 января 2024 г.-29 февраля 2024 г. Анализ влияния спекания танталовых объемно-пористых анодов на качество получаемых анодов
Результаты этапа: -
2 29 февраля 2024 г.-31 марта 2024 г. Сравнительный анализ имеющихся годных конденсаторов и конденсаторов, имеющие дефектные характеристики (короткое замыкание, большой ток утечки (более 100 мкА))
Результаты этапа: -
3 1 апреля 2024 г.-30 июня 2024 г. Сравнительный анализ готовых анодов разных производителей и производства «Элеконд»
Результаты этапа: -
4 1 июля 2024 г.-30 сентября 2024 г. Анализ влияния типа пластификатора на морфологию полученных анодов после спекания порошков
Результаты этапа: -
5 1 октября 2024 г.-10 декабря 2024 г. Выбор технологических характеристик спекания и отжига получаемых анодов (температура, время, среда нагрева)
Результаты этапа: -
6 1 ноября 2024 г.-10 декабря 2024 г. Разработка пакета информационно-методического материала по теме «Физико-химические процессы, происходящие при производстве танталовых и ниобиевых конденсаторов» и проведение обучающих семинаров
Результаты этапа: -

Прикрепленные к НИР результаты

Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".