Диагностика структуры и химического состава перспективных наносистем для задач оборонного комплекса методами электронно-ионной сканирующей микроскопиидоклад на конференции
Авторы:
Тагаченков А.М. ,
Кривенков М.А. ,
Васильева Н.В. ,
Киселева Т.Ю.,
Новакова А.А. ,
Зенова Е.В. ,
Ануфриев Ю.А. ,
Дудин А.А. ,
Еганова Е.М. ,
Дубровинский В.Ю. ,
Герус П.А. ,
Хенкин Л.В. ,
Балуян Т.А. ,
Жолудев С.И. ,
Хахалин А.В.
Локальная Конференция :
Выставка "Технологии специального назначения"
Даты проведения конференции:
2012
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Тагаченков А.М.
Кривенков М.А.
Васильева Н.В.
Киселева Т.Ю.
Новакова А.А.
Зенова Е.В.
Ануфриев Ю.А.
Дудин А.А.
Еганова Е.М.
Дубровинский В.Ю.
Герус П.А.
Хенкин Л.В.
Балуян Т.А.
Жолудев С.И.
Хахалин А.В.
Место проведения:
Москва, Россия
Добавил в систему:
Хахалин Андрей Владимирович