ИСТИНА

Рассеяние рентгеновского излучения на неоднородностях образца при скользящих углах (GISAXS) позволяет исследовать нанообъекты (1–100 нм) в поверхностных слоях.Метод GISAXS позволяет изучать наноструктуры (1–100 нм) в приповерхностных слоях. В геометрии, близкой к полному отражению, возникают эффекты преломления, требующие специального подхода к интерпретации данных. На экспериментальных картах, полученных на Курчатовском синхротроне, идентифицированы характерные особенности: дифракционное кольцо, указывающее на периодичность в расположении кластеров, боковые пятна (возможная квазикристалличность), стержневой максимум от шероховатости поверхности, пик Ионеды и пик зеркального отражения. Для количественного анализа предложена модель интенсивности рассеяния, учитывающая форм-фактор кластера, структурный фактор радиального паракристалла и вклады от поверхностных эффектов. Анализ радиальных сканов показал, что дифракционное кольцо является эллипсом, что свидетельствует о различии латеральной и нормальной периодичности в системе. Работа вносит вклад в развитие методики GISAXS для исследования нанокомпозитных материалов. Ключевые слова: GISAXS, нанокомпозитные плёнки, рентгеновское рассеяние, синхротронное излучение, структурный анализ, нанокластеры, поверхностные слои.