|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Стандарты по высокоточному оцениванию параметров объектов нужны дистанционных исследованиях при анализе космических изображений и в литографическом оборудовании для производства памяти и процессоров. Для этого в Мат. Обеспечении Измерительно Вычислительных Систем (МО ИВС) предлагаем использовать методы Градиентной Морфологии (ГМ) и методы Микроскопа с Искусственным Интеллектом Физик (MAIP).