ИСТИНА

Резонансная дифракция рентгеновских лучей (RXD) в последние два десятилетия развивалась как метод изучения локальных свойств кристаллов, таких как магнитное, зарядовое и орбитальное упорядочение, тепловые колебания и т. д., в отличие традиционной брэгговской дифракции, предназначенной, в основном, для изучения распределения электронной плотности (см. обзор [1] и ссылки в нем). Практическая реализация рентгеновских резонансных методов неразрывно связана с использованием источников синхротронного излучения (СИ), и возможностью «настройки» на резонансные энергии строго определенных химических элементов. Дополнительные возможности метода возникают вследствие того, что при энергии падающего излучения, близкой к краям поглощения атомов вещества, в амплитуде рассеяния возникают тензорные добавки, обусловленные локальной анизотропией атомного окружения или магнитными свойствами. Так как эти добавки малы по сравнению с изотропной частью амплитуды рассеяния, то стараются найти такие брэгговские отражения, где изотропный вклад отсутствует – запрещенные отражения. Эти отражения содержат информацию о том физическом свойстве, которое является причиной возникновения анизотропной поправки к атомному фактору. Угловое положение запрещенных отражений может совпадать или отличаться от брэгговских углов, соответствующих разрешенным отражениям, в зависимости от того, совпадает период изучаемого физического свойства с периодом кристаллической решетки, или нет. Недостатком метода запрещенных отражений является то, что он применим к кристаллам, симметрия которых описывается несимморфными группами. Область применения может быть расширена за счет изучения слабых разрешенных отражений или применения поляризационного анализа рассеянного излучения.