|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Карты GISAXS, измеренные на КИСИ,(CoFeZr)x(MgF₂)100–x нвключают дифракционное полукольцо, боковые пятна, указывающие на частичную квази-кристалличность в расположении кластеров, вертикальный стержневой максимум рассеяния на шероховатостях поверхности, пик Ионеды и пик зеркального отражения.Для описания дифракционного полукольца мы использовали модель радиального паракристалла, с поправками на преломление в скользящей геометрии. Разработанная программа подгонки теоретических карт использует радиальные сечения карт и включает учет всех отмеченных вкладов. Обработка позволила выявить, в частности, различие латеральной и нормальной периодичности в расположении нанокластеров.