|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ОЦЕНКА АНТИСТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ В КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЕ ТОПОЛОГИЧЕСКИХ ИЗОЛЯТОРОВ AB2Te4 (A = Mn, Ge, Sn, B = In, Sb, Bi) С ПОМОЩЬЮ КОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯдоклад на конференции
- Авторы: Кирсанова М.А., Фролов А.С., Сергеев А.И., Яшина Л.В.
- Всероссийская с международным участием Конференция : V Байкальский материаловедческий форум
- Даты проведения конференции: 4-10 июля 2025
- Дата доклада: 7 июля 2025
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Кирсанова М.А.
- Место проведения: Улан-Удэ - оз. Байкал (с. Горячинск), Россия
- Добавил в систему: Сергеев Антон Игоревич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|