|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Методами РЭМ,АСМ,оптической микроскопии и рентгеновского микроанализа с использованием стандартных измерений магнитных параметров материалов изучены локальные свойства приповерхностных слоев электротехнических сплавов.
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|