![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
На основе анализа результатов экспериментов на 12 независимых трещинах отмечается резкое увеличение степени сходства амплитуд излучения двух концов трещины SES для высокоамплитудных импульсов, вероятность появления которых, согласно закону распределения, меньше 1%. Степень сходства излучений двух концов трещины является для небольших трещин свидетельством того, что оба конца трещины испытывают общую вариацию НДС. Сопоставление различий разных информационных параметров для двух концов трещины позволяет оценить какие информационные параметры наиболее сходно отражают общую вариацию НДС для двух концов трещин. Поскольку анализируется 12 трещин за два с половиной года с частотой опроса 1 Гц и оцениваются средние характеристики, то полученные оценки достаточно представительны. Степень сходства амплитуд высокоамплитудных SES для двух концов трещины превышает для этих импульсов степень сходства по предложенному параметру интенсивности, несмотря на то, что для 99% импульсов всех трещин ситуация прямо противоположная. Более того для 12 трещин средние, максимальные и минимальные различия излучений двух концов трещин по амплитуде становятся меньше соответствующих значений по частоте импульсов, которая является характеристикой наиболее сходной для двух концов трещины для 99% импульсов. На основе анализа временного хода и различий распределений всех информационных параметров для высокоамплитудных и всех остальных импульсов выдвинута гипотеза о смене характера микротрещин в вершинах трещин с микротрещин отрыва на микротрещины сдвига.