|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Study of topographic features, shape, and mechanical stresses in microelectronic structures using geomorphometric techniquesдоклад на конференции
- Авторы: Dedkova A., Florinsky I.
- Международная Конференция : 15th International Conference "Micro- and Nanoelectronics – 2023" (ICMNE–2023)
- Даты проведения конференции: 2-6 октября 2023
- Дата доклада: 5 октября 2023
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: Dedkova A.
- Место проведения: Звенигород, Россия
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич