|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Методы растровой электронной микроскопии (РЭМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ) и магнитно-силовой микроскопии (МСМ) совместно с измерениями магнитных характеристик до и после воздействия импульсами слабого магнитного поля (10…100 кА/м) низкой частоты (10…20 Гц) использованы для изучения особенностей состояния поверхности, определяющих доменную структуру, магнитные свойства и магнитные потери при перемагничивании ленточных аморфных сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB).
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|