ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ПсковГУ |
||
Рентгеновская магнитная рефлектометрия (XRMR)является эффективным методом исследования профилей магнитного упорядочения в многослойных пленках. В докладе рассмотрены особенности теории XRMR и показано, что магнитные добавки к амплитуде отражения можно вычислять как интеграл от магнитных добавок по слоям с “весовым” множителем (квадрат суммарного поля излучения на каждой глубине).