IN-SITU IMAGING AND CONTROL OF INTENSE SOFT AND HARD X-RAY FEL BEAMS BY FLUORESCENT DETECTORS WITH SUBMICRON RESOLUTION - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Makarov S.S., Kodama R., Pikuz T.A., Faenov A.Ya, Mitrofanov A.N., Matsuoka T., Matsuyama S., Yamauchi K., Ozaki N., Inubushi Y., Yabashi M., Tono K., Sato Y., Yumoto H., Ohashi H., Grum-Grzhimailo A.N., Nishikino M., Kawachi T., Ishikawa T., Pikuz S.A.
Международная Конференция : Complex Systems of Charged Particles and Their Interactions with Electromagnetic Radiation 2019
Даты проведения конференции: 25-28 марта 2019
Дата доклада: 26 марта 2019
Тип доклада: Приглашенный
Докладчик: не указан
Место проведения: Москва, Russia

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ПсковГУ
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА