Выставка "Технологии специального назначения"конференция
-
Охват:
Локальная
-
Даты проведения:
2012
-
Место проведения:
Москва, Россия
-
Число участников:
50
-
Число докладчиков:
50
-
Добавил в систему:
Симоненко Михаил Михайлович
Доклады:
-
2012
Диагностика структуры и химического состава перспективных наносистем для задач оборонного комплекса методами электронно-ионной сканирующей микроскопии
-
Авторы:
Тагаченков А.М.,
Кривенков М.А.,
Васильева Н.В.,
Киселева Т.Ю.,
Новакова А.А.,
Зенова Е.В.,
Ануфриев Ю.А.,
Дудин А.А.,
Еганова Е.М.,
Дубровинский В.Ю.,
Герус П.А.,
Хенкин Л.В.,
Балуян Т.А.,
Жолудев С.И.,
Хахалин А.В.