Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ПсковГУ
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
сборник
Год издания:
2008
Место издания:
г. Великий Новгород
Добавил в систему:
Андреева Марина Алексеевна
Статьи, опубликованные в сборнике
2008
Влияние многократного гидрирования на характер изменения дефектной структуры сплава Pd-11.3 ат.%W 6 – 11 сентября 2008 года,
Авдюхина В.М.
,
Ревкевич Г.П.
в сборнике
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 51-52
2008
Немототонные фазовые превращения в фольгах сплава Pd-8.3ат.%Y после гидрирования
Ревкевич Г.П.
,
Авдюхина В.М.
,
Назмутдинов А.З.
,
Степенко С.О.
,
Уманская Н.А.
в сборнике
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 177-178
2008
Программное обеспечение селективного по глубине метода резонансной рентгеновской флуоресценции в скользящей геометрии
Андреева М.А.
,
Одинцова Е.Е.
,
Семёнов В.Г.
,
Иркаев С.М.
,
Панчук В.В.
в сборнике
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 54-55
2008
Рентгеновская рефлектометрия пленок и сверхрешеток на основе манганитов с гигантским магнитосопротивлением и структурно совместимых с высокотемпературными сверхпроводниками
Степанцов Е.А.
, Ломов А.А.,
Ганьшина Е.А.
,
Андреева М.А.
,
Ломбарди Ф.
,
Винклер Д.
в сборнике
Сборник материалов и программа Четвёртого международного научного семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)»
, место издания
г. Великий Новгород
, с. 201-203